表面光電壓譜提高了測(cè)量的度
更新時(shí)間:2020-07-10 點(diǎn)擊次數(shù):1021
表面光電壓譜一體整合,空間更緊湊,操作更簡(jiǎn)便,高精度,自動(dòng)化,數(shù)字化,讓實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確,高均勻可調(diào)節(jié)光纖光源,特別為光電極輻照設(shè)計(jì),在半導(dǎo)體及現(xiàn)代許多高科技領(lǐng)域里是一種很重要的研究手段。
半導(dǎo)體與金屬接觸處產(chǎn)生表面勢(shì)壘,當(dāng)光照射在樣品與金屬的接觸界面上時(shí),在光照面和非光照面之間建立起電位差,記錄這個(gè)電位差和入射光波長(zhǎng)的關(guān)系得到表面光電壓譜。表面光電壓譜反應(yīng)材料的光吸收性質(zhì)和電子的帶-帶躍遷,同時(shí)有收到光生載流子壽命的影響,多用于測(cè)量非平衡少數(shù)載流子的壽命,多采用的穩(wěn)態(tài)測(cè)量法,它利用穩(wěn)定的光照,使半導(dǎo)體中非平衡少子的分布達(dá)到穩(wěn)定,從而、快速地推算出勺子壽命。
表面光電壓譜測(cè)量中一個(gè)關(guān)鍵的測(cè)量不確定因素是光源的穩(wěn)定性,提高了測(cè)量的度。表面光電壓譜測(cè)量系統(tǒng)主要有氙燈光源、自動(dòng)掃描單色儀、光纖束、鎖相放大器、光學(xué)斬波器、暗室和數(shù)據(jù)采集軟件等部分組成,光催化過(guò)程的理解是利用太陽(yáng)能的前提,其中對(duì)半導(dǎo)體光催化中光激發(fā)電子和空穴的有效分離和遷移的理解是提高光催化效率的關(guān)鍵。
將氧化還原催化劑分別沉積于單晶粒子的相應(yīng)晶面,光催化性能可以提高300%,該研究不僅揭示光催化材料中一種新的且有效的電荷分離驅(qū)動(dòng)力,并且為不對(duì)稱的助催化組裝,以及空間可控的氧化還原反應(yīng)提供了新的策略。
表面光電壓譜在一定程度上提高了光電催化分解水的效率。然而,到目前為止,人們對(duì)光催化過(guò)程的認(rèn)識(shí)還很有限,對(duì)光電催化劑的研究大多停留在催化劑的合成和篩選上,對(duì)于光催化過(guò)程中表面催化活性中心結(jié)構(gòu)和反應(yīng)動(dòng)力 學(xué),光生電荷在界面?zhèn)鬏數(shù)倪^(guò)程和在光催化劑表面的分布認(rèn)識(shí)較少,大大阻礙了從分子水平上設(shè)計(jì)、合成新型的光電催化劑。